CY7C1361C

CY7C1363C

3.3V TAP AC Test Conditions

Input pulse levels

VSS to 3.3V

Input rise and fall times

1 ns

Input timing reference levels

1.5V

Output reference levels

1.5V

Test load termination supply voltage

1.5V

2.5V TAP AC Test Conditions

Input pulse levels

VSS to 2.5V

Input rise and fall time

1 ns

Input timing reference levels

1.25V

Output reference levels

1.25V

Test load termination supply voltage

1.25V

3.3V TAP AC Output Load Equivalent

2.5V TAP AC Output Load Equivalent

 

 

 

 

 

 

 

 

1.5V

 

 

 

 

 

 

 

1.25V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

50

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

50

 

TDO

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

TDO

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ZO= 50

 

 

 

 

 

 

 

20pF

 

 

 

 

ZO= 50

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20pF

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

TAP DC Electrical Characteristics And Operating Conditions

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(0°C < TA < +70°C; VDD = 3.3V ±0.165V unless otherwise noted)[11]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Parameter

 

 

 

Description

 

 

 

 

 

 

 

 

Description

 

 

Conditions

 

Min.

 

Max.

Unit

VOH1

 

Output HIGH Voltage

 

 

 

 

 

 

 

 

IOH = –4.0 mA

 

VDDQ = 3.3V

 

2.4

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

IOH = –1.0 mA

 

VDDQ = 2.5V

 

2.0

 

 

 

 

 

V

VOH2

 

Output HIGH Voltage

 

 

 

 

 

 

 

 

IOH = –100 µA

 

VDDQ = 3.3V

 

2.9

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VDDQ = 2.5V

 

2.1

 

 

 

 

 

V

VOL1

 

Output LOW Voltage

 

 

 

 

 

 

 

 

IOL = 8.0 mA

 

VDDQ = 3.3V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0.4

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

IOL = 8.0 mA

 

VDDQ = 2.5V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0.4

V

VOL2

 

Output LOW Voltage

 

 

 

 

 

 

 

 

IOL = 100 µA

 

VDDQ = 3.3V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0.2

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VDDQ = 2.5V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0.2

V

VIH

 

Input HIGH Voltage

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VDDQ = 3.3V

 

2.0

 

 

 

 

VDD + 0.3

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VDDQ = 2.5V

 

1.7

 

 

 

 

VDD + 0.3

V

VIL

 

Input LOW Voltage

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VDDQ = 3.3V

 

–0.5

 

0.7

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

VDDQ = 2.5V

 

–0.3

 

0.7

V

IX

 

Input Load Current

 

 

 

 

 

 

 

 

GND < VIN < VDDQ

 

 

 

 

 

 

 

–5

 

5

µA

Identification Register Definitions

Instruction Field

CY7C1361C

CY7C1363C

Description

(256K x36)

(512K x18)

 

 

 

 

Revision Number (31:29)

000

000

Describes the version number.

 

 

 

 

Device Depth (28:24)[12]

01011

01011

Reserved for Internal Use

Device Width (23:18) 119-BGA

101001

101001

Defines memory type and architecture

 

 

 

 

Device Width (23:18) 165-FBGA

000001

000001

Defines memory type and architecture

 

 

 

 

Cypress Device ID (17:12)

100110

010110

Defines width and density

 

 

 

 

Cypress JEDEC ID Code (11:1)

00000110100

00000110100

Allows unique identification of SRAM vendor.

 

 

 

 

ID Register Presence Indicator (0)

1

1

Indicates the presence of an ID register.

 

 

 

 

Notes:

11.All voltages referenced to VSS (GND).

12.Bit #24 is “1” in the Register Definitions for both 2.5V and 3.3V versions of this device.

Document #: 38-05541 Rev. *F

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Cypress CY7C1363C, CY7C1361C 3V TAP AC Test Conditions, 5V TAP AC Test Conditions, Identification Register Definitions