Manual de instrucciones 255
Measure (compás) Determina el número de compases de la muestra que se va a trocear.
Con la operación de trocear se crearán los datos de secuencia correspondientes al número especificado de
compases. Los datos de secuencia se crean desde el comienzo del compás actual en el que haya comenzado la
muestra.
Ajustes: 1~8
Meter (métrica) Especifica la métrica (signatura de tiempo) de la muestra. La opción seleccionada será la unidad de
fragmentación básica.
Ajustes: 1/16 ~ 16/16, 1/8 ~ 16/8, 1/4 ~ 8/4
SubDivide El parámetro Meter determina la unidad de fragmentación básica,
mientras que SubDivide especifica una resolución aún más exacta
para las frases que contengan secciones con notas más cortas. En la
frase de la derecha, por ejemplo, la métrica deberá ajustarse a 4/4 y
la subdivisión a 1/2.
Ajustes:
Si Meter se ajusta a 1 ~ 8/4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .negra (1/1), corchea (1/2), tresillo
de corcheas (1/3), semicorchea (1/4), tresillo de semicorcheas (1/6), fusa (1/8), tresillo
de fusas (1/12)
Si Meter se ajusta a 1 – 16/8 . . . . . . . . . . . . . . . . . .corchea (1/1), semicorchea (1/2), tresillo de semicorcheas (1/3), fusa (1/4), tresillo de
fusas (1/6)
Si Meter se ajusta a 1 – 16/16 . . . . . . . . . . . . . . . .semicorchea (1/1), fusa (1/2), tresillo de semicorcheas (1/3)
Este parámetro no tiene ningún efecto cuando el tipo de fragmentación está ajustado a 1~3.
La máxima resolución de fragmentación para las muestras estéreo es de 64 fragmentos, y de 128 para las muestras mono.
Sens Ajuste adicional de las subdivisiones especificadas por el parámetro Subdivide. Los valores elevados producen
(sensibilidad a la envolvente) una mayor resolución, permitiendo la detección y fragmentación de notas aún más exactas y de sonidos más
cortos. Utilice la función Audition (audición) (pulse [SF1] para oír los resultados, y si no está satisfecho con
ellos, cambie el ajuste y vuelva a intentarlo).
Ajustes: 1 ~ 5
Este parámetro no tiene ningún efecto cuando se selecciona el tipo de fragmentación “quick” (rápida).
Este modo pone a su disposición diversas herramientas de edición para modificar las muestras grabadas y personalizarlas en función de la
aplicación.
Para las muestras grabadas en estéreo (con Stereo Sampling), las ondas derecha e izquierda de la muestra se editan conjuntamente. En el
proceso real, los cambios realizados en la onda del canal izquierdo se duplican exactamente en el derecho. La excepción es el panorámico, pues la
muestra ya está en estéreo.
A diferencia del modo de grabación de muestras, todos los parámetros y funciones del modo de edición de muestras son los mismos,
independientemente del modo seleccionado previamente.
Todas las operaciones de edición de muestras se aplican a la forma de onda (muestra real), no a la voz.
[F1] KEYBANK (banco de teclas)
En esta pantalla puede determinar la posición de destino en la que se guardará la muestra grabada.
Waveform (forma de onda) Seleccione una forma de onda que contenga la muestra que desea editar. Lleve el cursor al número de forma de
onda y seleccione el número deseado con el botón [INC/YES], el botón [DEC/NO] o la rueda de datos.
Para seleccionar el banco de teclas deseado, mantenga pulsado el botón [INFORMATION] y pulse la tecla
correspondiente en el teclado. Pulse el botón [SF2] SELECT para visualizar por orden las muestras asignadas al
banco de teclas seleccionado.
Keybank (banco de teclas) Indicates information... = Ofrece información sobre el banco de teclas seleccionado. Los márgenes de teclas y
velocidades de pulsación (que no se pueden editar aquí) pueden cambiarse en la pantalla [F4] RANGE.
[SF1] AUDITION Es posible oír la muestra seleccionada pulsando el botón [SF1].
[SF2] SELECT (selección) Pulse el botón [SF2] para visualizar por orden las muestras asignadas al banco de teclas seleccionado.
Los botones [SF1] AUDITION y [SF2] SELECT pueden usarse igual con otras pantallas de los modos de edición de muestras y
operaciones de muestras.
[F2] TRIM (recortar)
Esta operación es la misma que la del modo de grabación de muestras (cuando el tipo de muestreo se ajusta a “slice+seq”). Véase la página 253.
[F3] PARAM (parámetro)
Level (nivel) Determina el nivel de salida de la muestra seleccionada.
Ajustes:-94.5dB ~ -0.0dB
Pan Determina la posición estéreo de la muestra seleccionada. Tenga en cuenta que no estará disponible para las
muestras grabadas en estéreo.
Ajustes:L64 (total izquierda) ~ C (central) ~ R63 (total derecha)
n
n
n
n
n
n
n
[INTEGRATED SAMPLING] →[EDIT]
Modo de edición de muestras