Leica DM1000 LED manual Messungen mit dem Mikroskop, 10.1 Längenmessungen, Mikrometerwert

10. Messungen mit dem Mikroskop

10. Messungen mit dem Mikroskop

10.1 Längenmessungen

Für Längenmessungen sind erforderlich:

- Strichplatte* mit Teilung im Okular oder ein di- gitales Längenmessokular*.

-Objektmikrometer zur Eichung. (→ Abb. 50)

Mikrometerwert

Vor der Messung muss der Mikrometerwert der benutzten Objektiv-Okular-Kombination bekannt sein, d.h., die Strecke im Präparat, die einem Teilstrichabstand der benutzten Strichplatte ent- spricht.

Zur Ermittlung des Wertes gehen Sie folgendermaßen vor:

•Richten Sie Objektmikrometer und Strichplatte durch Drehen des Okulars parallel zueinander aus und bringen Sie die Nullstriche beider Skalen auf exakt gleiche Höhenposition

•Lesen Sie ab, wieviel Skalenteile des Objekt- mikrometers wieviel Skalenteilen der Mikroskopskala (Strichplatte) entsprechen

•Dividieren Sie beide Werte; das Ergebnis er- gibt den Mikrometerwert für die eben benutz- te Gesamtvergrößerung

Beispiel:

Treffen 1.220 mm des Objektmikrometers auf 100 Skalenteile der Messskala, so ist der Mikrometerwert = 1,220:100 = 0,0122 mm = 12,2 μm. Bei sehr schwach ver- größernden Objektiven kann zur Eichung u.U. nur ein Teil der Messskala benutzt werden.

Hinweise:

Bei Verwendung eines Vergrößerungs- wechslers* muss der Vergrößerungsfaktor be- rücksichtigt werden! Es empfiehlt sich unbe- dingt, die Eichung für jedes Objektiv und jeden Faktor des Vergrößerungswechslers individuell durchzuführen und nicht aus der Eichung mit ei- nem Objektiv die Mikrometerwerte der übrigen Objektive bzw. Vergrößerungsstufen rechne- risch zu extrapolieren.

Messfehler können entstehen, wenn das Okular nicht bis zum Anschlag in den Tubus eingesteckt ist.

Besonders große Objektstrukturen können auch unter Verwendung der Nonien (0,1mm) auf dem Objekttisch bestimmt werden; dabei ist die zu messende Strecke evtl. aus einer kombinierten x- und y-Messung rechnerisch zu bestimmen.

Abb. 50

Teilung der Strichplatte im Okular (links) und Bild des Objektmikrometers (rechts)

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