Agilent Technologies 856290216 service manual Tables, Contents-15

Tables

l-l. Instrument Variations . . . . . . . . . . . . . .

l-2. Service Kit Contents . . . . . . . . . . . . . .

l-3. Static-Safe Accessories . . . . . . . . . . . . . .

l-4. Recommended Test Equipment . . . . . . . . . .

l-5. Hewlett-Packard Sales and Service Offices . . . . .

2-l. Related Adjustments . . . . . . . . . . . . . .

2-2. Adjustable Components . . . . . . . . . . . . .

2-3. Factory Selected Components . . . . . . . . . . .

2-4. TAM Adjustments . . . . . . . . . . . . . . .

2-5. Required Test Equipment for TAM . . . . . . . .

2-6. Factory-Selected LC Filter Capacitors . . . . . . .

2-7. LC Factory-Selected Capacitor Selection . . . . . .

2-8. Factory-Selected XTAL Filter Capacitors . . . . .

2-9. XTAL Factory-Selected Capacitor Selection . . . .

2-10. Capacitor Part Numbers . . . . . . . . . . . . .

2-11. Sampling Adjustments . . . . . . . . . . . . . .

2-12. Conversion Loss Data . . . . . . . . . . . . . .

3-1. Required Test Equipment Summary . . . . . . . .

4-l. Required Tools . . . . . . . . . . . . . . . . .

5-l. Reference Designations, Abbreviations and Multipliers 5-2. Manufacturers Code List . . . . . . . . . . . . .

5-3. Replaceable Parts . . . . . . . . . . . . . . . .

7-l. Location of Assembly Troubleshooting Text . . . .

8-l. W2 Control Cable Connections . . . . . . . . . .

8-2. Automatic Fault Isolation References . . . . . . .

8-3. TAM Tests versus A3 Test Connectors . . . . . . .

8-4. Keyboard Matrix . . . . . . . . . . . . . . . .

8-5. Counter Frequencies . . . . . . . . . . . . . . .

8-6. Trigger MUX Truth Table . . . . . . . . . . . .

8-7. A3U102 Latch Outputs . . . . . . . . . . . . .

8-8. HMUXSELO/l versus Detector Mode . . . . . .

8-9. Logic Levels at A3U108 . . . . . . . . . . . . .

S-10. Demultiplexer A3U410 Truth Table . . . . . . . .

8-11. Demultiplexer A3U500 Truth Table . . . . . . . .

8-12. LP/Q Truth Table . . . . . . . . . . . . . . .

8-13. Control Word at Primary Address (U3 and U4) . . .

9-l. Automatic Fault Isolation References . . . . . . .

9-2. TAM Tests versus Test Connectors . . . . . . . .

9-3. Sweep Width Settings . . . . . . . . . . . . . .

10-l. TAM Tests versus Test Connectors . . . . . . . .

10-2. Gate Times . . . . . . . . . . . . . . . . . .

11-l. Measured Signal Line Location . . . . . . . . . .

11-2. Automatic Fault Isolation References . . . . . . .

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l-2 l-4 l-6 l-10 1-17 2-4 2-6 2-8

2-10

2-11

2-23

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2-59

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8-18 S-20 8-22 S-30 S-30 8-33 8-34

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